| Název: | Aspekty měření šumu 1/f výkonových polovodičových prvků |
| Autoři: | Hájek, Jiří Papež, Václav |
| Citace zdrojového dokumentu: | Electroscope, 2011, č. 5, Diagnostika'11. |
| Datum vydání: | 2011 |
| Nakladatel: | Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická |
| Typ dokumentu: | článek konferenční příspěvek article conferenceObject |
| URI: | http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2011/Cislo5_2011/r5c5c2.pdf http://hdl.handle.net/11025/654 |
| ISSN: | 1802-4564 |
| Klíčová slova: | polovodičové prvky;proudový šum;elektrická měření |
| Klíčová slova v dalším jazyce: | semiconductor devices;current noise;electrical measurements |
| Abstrakt: | Jedním z hlavních znaků jakosti elektrotechnických součástek je úroveň proudového šumu. U pasivních prvků je šum přímo měřítkem kvality a stárnutím se může výrazně měnit. Měřením šumu tak lze předpovídat dobu života nebo pravděpodobnost poruchy. V případě polovodičů je proudový šum měřítkem kvality výroby či použité technologie. Na rozdíl od pasivních součástek není vliv stárnutí polovodičových prvků na šum tak výrazný. Šum však lze využít k detekci skrytých vad VA charakteristik, které se obtížně zjišťují běžnými měřeními. Na rozdíl od měření elektrických parametrů vyžaduje měření šumu dokonalé přizpůsobení měřicího obvodu k měřené součástce. Použité přístroje a zapojení výrazně ovlivňují výsledek měření. |
| Práva: | © 2011 Electroscope. All rights reserved. |
| Vyskytuje se v kolekcích: | Číslo 5 - Diagnostika (2011) Články / Articles (KIV) Číslo 5 - Diagnostika (2011) |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|---|
| r5c5c2.pdf | 516,53 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/654Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.