Full metadata record
| DC pole | Hodnota | Jazyk |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Hájek, Jiří | |
| dc.contributor.author | Papež, Václav | |
| dc.contributor.editor | Pihera, Josef | |
| dc.contributor.editor | Steiner, František | |
| dc.date.accessioned | 2012-11-13T08:25:37Z | - |
| dc.date.available | 2012-11-13T08:25:37Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.identifier.citation | Electroscope, 2011, č. 5, Diagnostika'11. | cs |
| dc.identifier.issn | 1802-4564 | |
| dc.identifier.uri | http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2011/Cislo5_2011/r5c5c2.pdf | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11025/654 | |
| dc.description.abstract | Jedním z hlavních znaků jakosti elektrotechnických součástek je úroveň proudového šumu. U pasivních prvků je šum přímo měřítkem kvality a stárnutím se může výrazně měnit. Měřením šumu tak lze předpovídat dobu života nebo pravděpodobnost poruchy. V případě polovodičů je proudový šum měřítkem kvality výroby či použité technologie. Na rozdíl od pasivních součástek není vliv stárnutí polovodičových prvků na šum tak výrazný. Šum však lze využít k detekci skrytých vad VA charakteristik, které se obtížně zjišťují běžnými měřeními. Na rozdíl od měření elektrických parametrů vyžaduje měření šumu dokonalé přizpůsobení měřicího obvodu k měřené součástce. Použité přístroje a zapojení výrazně ovlivňují výsledek měření. | cs |
| dc.format | 3 s. | cs |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická | cs |
| dc.relation.ispartofseries | Electroscope | cs |
| dc.rights | © 2011 Electroscope. All rights reserved. | en |
| dc.subject | polovodičové prvky | cs |
| dc.subject | proudový šum | cs |
| dc.subject | elektrická měření | cs |
| dc.title | Aspekty měření šumu 1/f výkonových polovodičových prvků | cs |
| dc.type | článek | cs |
| dc.type | konferenční příspěvek | cs |
| dc.type | article | en |
| dc.type | conferenceObject | en |
| dc.rights.access | openAccess | en |
| dc.type.version | publishedVersion | en |
| dc.subject.translated | semiconductor devices | en |
| dc.subject.translated | current noise | en |
| dc.subject.translated | electrical measurements | en |
| dc.type.status | Peer-reviewed | en |
| Vyskytuje se v kolekcích: | Číslo 5 - Diagnostika (2011) Články / Articles (KIV) Číslo 5 - Diagnostika (2011) | |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|---|
| r5c5c2.pdf | 516,53 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/654Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.