| Název: | Noise spectroscopy of shallow traps in CdTe crystals |
| Autoři: | Schauer, Pavel |
| Citace zdrojového dokumentu: | Electroscope. 2010, č. 3, EDS 2010. |
| Datum vydání: | 2010 |
| Nakladatel: | Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická |
| Typ dokumentu: | konferenční příspěvek conferenceObject |
| URI: | http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2010/Cislo3_2010_EDS/r4c3c13.pdf http://hdl.handle.net/11025/586 |
| ISSN: | 1802-4564 |
| Klíčová slova: | noise spectroscopy;shallow traps;CdTe crystals |
| Klíčová slova v dalším jazyce: | zvuková spektroskopie;mělké pasti;krytaly CdTe |
| Abstrakt v dalším jazyce: | We introduce the noise traps spectroscopy, which is a method of material characterization. This method makes it possible to localize the shallow traps and find out their parameters. It is based on the measurement of the current noise spectral density versus temperature plots for different energies of the sample illuminating monochromatic light. All traps energies can be found in papers of other authors. |
| Práva: | Copyright © 2007-2010 Electroscope. All Rights Reserved. |
| Vyskytuje se v kolekcích: | Číslo 3 - EDS 2010 (2010) Číslo 3 - EDS 2010 (2010) |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|---|
| r4c3c13.pdf | 184,47 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/586Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.