Full metadata record
DC pole | Hodnota | Jazyk |
---|---|---|
dc.contributor.author | Beshajová Pelikánová, I. | |
dc.contributor.author | Kaltmeyer, J. | |
dc.contributor.editor | Pihera, Josef | |
dc.contributor.editor | Steiner, František | |
dc.date.accessioned | 2019-02-20T07:37:01Z | - |
dc.date.available | 2019-02-20T07:37:01Z | - |
dc.date.issued | 2018 | |
dc.identifier.citation | Electroscope. 2018, č. 1. | cs |
dc.identifier.issn | 1802-4564 | |
dc.identifier.uri | http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2018/Cislo1_2018/r12c1c1.pdf | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11025/30996 | |
dc.description.abstract | Článek je zaměřen na problematiku tlustovrstvých struktur vytvářených sítotiskem. Práce analyzuje vliv různých typů polymerních past a technologie přípravy vrstev na geometrii nanesených motivů. Vzorky testovacích struktur byly natištěny na podložky z korundové keramiky. Měřenými parametry byly elektrický odpor a rozměry nanesených vrstev. Byly vyhodnocovány a porovnávány také odchylky od teoretické šířky vrstvy. Natištěné motivy se měřily optickým mikroskopem a tloušťka vrstev hrotovou metodou. | cs |
dc.format | 4 s. | cs |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | en | en |
dc.publisher | Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická | cs |
dc.relation.ispartofseries | Electroscope | cs |
dc.rights | Copyright © 2018 Electroscope. All Rights Reserved. | en |
dc.subject | tlustovrstvé struktury | cs |
dc.subject | sítotisk | cs |
dc.subject | polymerní pasty | cs |
dc.subject | geometrie vzoru | cs |
dc.title | Thick Film Structure – Influence of Pattern Geometry | en |
dc.type | článek | cs |
dc.type | article | en |
dc.rights.access | openAccess | en |
dc.type.version | publishedVersion | en |
dc.description.abstract-translated | The article concern with the topic of thick-film structures prepared by screen printing. Work is focused on analysis the influence of different types of polymer paste and preparation technology of layer on the pattern geometry. Set of samples of test structure with different sizes and shapes were printed on ceramics substrates. Measured parameters were the electrical resistance and the dimensions of the layers. Deviations from the theoretical width values for each type of paste were analyzed and compared. The path width was measured by optical microscope and the thickness of the layers by the stylus method. | en |
dc.subject.translated | thick -film structures | en |
dc.subject.translated | screen printing | en |
dc.subject.translated | polymer pastes | en |
dc.subject.translated | pattern geometry | en |
dc.type.status | Peer-reviewed | en |
Vyskytuje se v kolekcích: | Číslo 1 (2018) Číslo 1 (2018) |
Soubory připojené k záznamu:
Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
---|---|---|---|---|
r12c1c1.pdf | Plný text | 390,15 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/30996
Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.