Název: Chip-level bonding for microelectronic components by induction sintering of micro structured Ag particles
Autoři: Rochala, Patrick
Hofmann, Christian
Kroll, Martin
Wiemer, Maik
Kräusel, Verena
Citace zdrojového dokumentu: Proceeding of UIE 2021: XIX International UIE Congress on Evolution and New Trends in Electrothermal Processes. 1.-3.2021, Pilsen, Faculty of Electrical Engineering, University of West Bohemia, Czech Republic, 2021, p. 85-86.
Datum vydání: 2021
Nakladatel: Faculty of Electrical Engineering, University of West Bohemia
Typ dokumentu: conferenceObject
konferenčí příspěvek
URI: http://hdl.handle.net/11025/45801
ISBN: 978-80-261-0930-3
Klíčová slova: indukční vazba;balení na úrovni čipů;FE simulace
Klíčová slova v dalším jazyce: induction bonding;chip-level packaging;FE simulation
Abstrakt v dalším jazyce: A new induction based sintering process for chip level bonding of power electronics components is presented in which silver particles containing pastes are used as bonding material. Using finite element methods, the bonding process was analyzed and optimized so that efficient sintering of the particles could be achieved in subsequent heating and bonding tests. Therefore, the process has great potential for application in the industrial production of electronic components.
Práva: © IEEE
Vyskytuje se v kolekcích:UIE 2021
UIE 2021

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Proceeding_2021_final-85-86.pdfPlný text1,07 MBAdobe PDFZobrazit/otevřít
uvod_tiraz_obsah.pdfPlný text2,04 MBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/45801

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.