| Název: | Using VHDL-AMS to simulate aging behavior of electronic components |
| Autoři: | Hofmann, Gerhard Georgiev, Vjačeslav |
| Citace zdrojového dokumentu: | 2016 International Conference on Applied Electronics: Pilsen, 6th – 7th September 2016, Czech Republic, p.89-92. |
| Datum vydání: | 2016 |
| Nakladatel: | Západočeská univerzita v Plzni |
| Typ dokumentu: | konferenční příspěvek conferenceObject |
| URI: | http://hdl.handle.net/11025/35195 |
| ISBN: | 978–80–261–0601–2 (Print) 978–80–261–0602–9 (Online) |
| ISSN: | 1803–7232 (Print) 1805–9597 (Online) |
| Klíčová slova: | stárnutí;rezistor;modelování integrovaných obvodů;matematický model;výpočetní modelování;knihovny |
| Klíčová slova v dalším jazyce: | aging;resistors;integrated circuit modeling;mathematical model;SPICE;computational modeling;libraries |
| Abstrakt v dalším jazyce: | Reliability of electronics is in the automotive industry very important. The average age of cars in Germany was 9 years at 2015.i Normally the life time is evaluated by the environmental test according ISO 16750. The content of this paper is to contribute that computer simulation of aging is a possible way to evaluate electronic circuits in the define phase. For this reason a VHDL-AMS simulation models is used to model aging behavior of a resistor. |
| Práva: | © Západočeská univerzita v Plzni |
| Vyskytuje se v kolekcích: | Články / Articles (KAE) Applied Electronics 2016 Applied Electronics 2016 |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|---|
| Hofmann.pdf | Plný text | 268,04 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/35195Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.