Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.advisorSteiner František, Doc. Ing. Ph.D.
dc.contributor.authorRous, Pavel
dc.contributor.refereeHirman Martin, Ing. Ph.D.
dc.date.accepted2021-6-15
dc.date.accessioned2021-11-26T13:02:53Z-
dc.date.available2020-10-9
dc.date.available2021-11-26T13:02:53Z-
dc.date.issued2021
dc.date.submitted2021-5-27
dc.identifier85657
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/46027-
dc.description.abstractDiplomová práce se zabývá diagnostikou elektronických sestav za pomocí výpočetní tomografie. V první části práce je popsána funkce výpočetního tomografu a rentgenu obecně. V další části je zpracován výpis vad elektronických sestav a jejich popisu rozdělený do třech kategorií. V další části je již popsána diagnostika různých vad za pomocí destruktivních a nedestruktivních metod včetně jejich vyhodnocení. Metody jsou na základě výsledků a vhodnosti pro jednotlivé typy vad navzájem porovnány a zhodnoceny. V závěru práce je obsaženo doporučení pro volbu vhodných parametrů výkonu rentgenové trubice a jejich vliv na výsledný obraz, které lze využít v praxi.cs
dc.format72 s. (81 625 znaků)
dc.language.isocs
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plzni
dc.rightsPlný text práce je přístupný bez omezení
dc.subjectvýpočetní tomografiecs
dc.subjectrentgenová diagnostikacs
dc.subjectelektronické sestavycs
dc.subjectvady elektronických zařízenícs
dc.subjectmateriálografické výbrusycs
dc.subjectnedestruktivní metodacs
dc.titleDiagnostika elektronických sestav pomocí rentgenového zářenícs
dc.title.alternativeDiagnostics of electronic assemblies using X-raysen
dc.typediplomová práce
dc.thesis.degree-nameIng.
dc.thesis.degree-levelNavazující
dc.thesis.degree-grantorZápadočeská univerzita v Plzni. Fakulta elektrotechnická
dc.thesis.degree-programElektrotechnika a informatika
dc.description.resultObhájeno
dc.description.abstract-translatedThe thesis deals with the diagnosis of electronic assemblies using computed tomography. The first part of the thesis describes the function of computed tomography and X-ray in general. In the next part, a list of defects of electronic assemblies and their description divided into three categories is presented. In the next part, the diagnosis of various defects using destructive and non-destructive methods including their evaluation is also described. The methods are compared and evaluated on the basis of their results and suitability for each type of defect. The paper concludes with recommendations for the selection of appropriate X-ray tube performance parameters and their influence on the resulting image, which can be used in practice.en
dc.subject.translatedcomputed tomographyen
dc.subject.translatedx-ray diagnosticsen
dc.subject.translatedelectronic assembliesen
dc.subject.translateddefects of electronic devicesen
dc.subject.translatedcross-section analysisen
dc.subject.translatednon-destructive methoden
Vyskytuje se v kolekcích:Diplomové práce / Theses (KET)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
DP_ROUS_FINAL.pdfPlný text práce3,36 MBAdobe PDFZobrazit/otevřít
PosudekVedoucihoSTAG.pdfPosudek vedoucího práce37,12 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
PosudekOponentaSTAG.pdfPosudek oponenta práce39,24 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
ProtokolSPrubehemObhajobySTAG.pdfPrůběh obhajoby práce23,27 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/46027

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.