Title: | Přesnost měření v senzorových systémech s optovláknovými Braggovými mřížkami |
Authors: | Urban, F. Helán, R. Urban, F. |
Citation: | Electroscope. 2022, č. 1. |
Issue Date: | 2022 |
Publisher: | Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická |
Document type: | článek article |
URI: | http://hdl.handle.net/11025/50794 |
ISSN: | 1802-4566 |
Keywords: | Braggovy mřížky v optických vláknech;FBG;šum;měření;přesnost |
Keywords in different language: | Fiber Bragg grating;FBG;noise;measurement;accuracy |
Abstract: | Práce se zabývá aplikací optovláknových Braggových mřížek (FBG) v senzorice a nalyzuje faktory, které ovlivňují přesnost vyhodnocování snímaných veličin. Zaměřili jsme pozornost na spektrální měření posunu maxima reflexivity snímací mřížky, které má potenciál dosažení nejvyšších přesností měření. V práci analyzujeme skenovací způsob vyhodnocení spektra a jeho změn jako nejvhodnější metodu pro průmyslové aplikace, která poskytuje širokou volbu přijatelného kompromisu mezi rychlostí vyčítání hodnot spektrálních změn a přesností měření. Veličina, která zásadně ovlivňuje přesnost měření, je šum superponovaný v přijímači na časový signál odezvy reflexivity měřící mřížky ozařované periodicky přelaďovaným úzkopásmovým optickým zdrojem. Práce analyzuje vliv tohoto šumu na měření a zkoumá parametry skenovacího optického zdroje a vlastnosti měřící mřížky z pohledu dosažitelné přesnosti měření. Pro hodnocení vhodnosti mřížky a parametrů skenování k přesnému měření zavádíme parametr šumová šířka spektra mřížky a šumová šířka skenování spektra mřížky. V práci sou naznačeny souvislosti technologických kroků výrobního procesu mřížky s odrazivostí mřížky kritickou pro minimalizaci měřících chyb. Význam šířky spektra měřící mřížky na přesnost měření vedl ke zkoumání možností apodizace mřížek, tedy vytváření mřížkových struktur s podélně proměnným profilem amplitudy změn indexu lomu.. Analýza apodizačních profilů a technické možnosti přípravy mřížek s apodizací nás přivedly k řešení čistě apodizovaných mřížkových struktur, které je realizovatelné technikou vícenásobné příčné expozice vlákna interferenčním polem fázové mřížky ozářené výkonným UV laserem. Je představen design mřížky s potenciálem významnéhu zvýšení přesnosti detekce posunu spektra. |
Rights: | © Electroscope. All rights reserved. |
Appears in Collections: | Číslo 1 (2022) Číslo 1 (2022) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
r16c1c6.pdf | Plný text | 644,63 kB | Adobe PDF | View/Open |
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/11025/50794
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.