| Název: | Elektrické a optické vlastnosti tenkých transparentních vodivých vrstev |
| Další názvy: | Electrical and optical properties of transparent conducting thin films |
| Autoři: | Šejhlová, Růžena |
| Vedoucí práce/školitel: | Novák, Petr Prušáková, Lucie |
| Oponent: | Rezek, Jiří |
| Datum vydání: | 2014 |
| Nakladatel: | Západočeská univerzita v Plzni |
| Typ dokumentu: | diplomová práce |
| URI: | http://hdl.handle.net/11025/12365 |
| Klíčová slova: | transparentní vodivé oxidy;tenké vrstvy ZnO:Al;optické vlastnosti;elektrické vlastnosti;strukturní vlastnosti;magnetronové naprašování |
| Klíčová slova v dalším jazyce: | transparent conductive oxides;ZnO:Al thin films;optical properties;electrical properties;structural properties;magnetron sputtering |
| Abstrakt: | Tato diplomová práce se zabývá studiem elektrických, optických a strukturních vlastností tenkých transparentních vodivých vrstev. Jako vhodný materiál pro tuto práci byl zvolen hliníkem dopovaný oxid zinečnatý. Zkoumané vrstvy byly vytvořeny metodou magnetronového RF naprašování. V úvodu této práce je provedeno shrnutí teoretických poznatků, týkající se transparentních vodivých oxidů a metod přípravy tenkých vrstev. V následující části jsou podrobně popsány všechny využité analytické metody. Závěrečná část je zaměřena na výsledky získané podrobnou analýzou vytvořených vzorků, dále je zde zmíněna souvislost mezi optickými, elektrickými a strukturními vlastnostmi deponovaných vrstev. |
| Abstrakt v dalším jazyce: | The purpose of this Diploma's Thesis is to study the electrical, optical and structural properties of thin transparent conductive oxides. The proper material chosen for this thesis was the aluminum doped zinc oxide. Thin films were prepared by magnetron RF sputtering. The first part of the thesis deals with summary of theoretical knowledge about chosen material and methods used for deposition of thin films. The following part focuses on methods used for analysis of prepared thin films. Finally, the thesis summarized results achieved by chosen measurements and gives a connection between optical, electrical and structural properties of deposited thin films. |
| Práva: | Plný text práce je přístupný bez omezení. |
| Vyskytuje se v kolekcích: | Diplomové práce / Theses (KET) |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|---|
| Sejhlova_DP_final.pdf | Plný text práce | 9,07 MB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
| 058604_vedouci.pdf | Posudek vedoucího práce | 342,51 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
| 058604_oponent.pdf | Posudek oponenta práce | 521,03 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
| 058604_hodnoceni.pdf | Průběh obhajoby práce | 183,25 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/12365Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.