Full metadata record
DC pole | Hodnota | Jazyk |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Džugan, Tomáš | |
dc.contributor.author | Clauberg, Andreas | |
dc.contributor.referee | Řeboun, Jan | |
dc.date.accepted | 2015-06-25 | |
dc.date.accessioned | 2016-03-15T08:50:03Z | - |
dc.date.available | 2012-10-15 | cs |
dc.date.available | 2016-03-15T08:50:03Z | - |
dc.date.issued | 2015 | |
dc.date.submitted | 2013-06-07 | |
dc.identifier | 53697 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11025/18834 | |
dc.description.abstract | Teoretická část bakalářské práce se zabývá mikroskopií atomárních sil.Různými metodami měření a výpočtem chyb měření. Dále jejich úpravou či jejich částečným odvozením. Práce rozpracovává také teorii sond, jejich výrobu a použití. V praktické části se práce věnuje rozboru použitelných sond pro mikroskop od firmy BRUKER. Vzhledem k použití a zpracování z hlediska jejich fyzikálních vlastností a rovněž porovnání cen od výrobce. | cs |
dc.format | 46 s. (46 838 znaků) | cs |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Západočeská univerzita v Plzni | cs |
dc.relation.isreferencedby | https://portal.zcu.cz/StagPortletsJSR168/CleanUrl?urlid=prohlizeni-prace-detail&praceIdno=53697 | - |
dc.rights | Plný text práce je přístupný bez omezení. | cs |
dc.subject | atomární síla | cs |
dc.subject | teorie sond | cs |
dc.subject | fyzikální vlastnosti | cs |
dc.title | Mikroskopie atomárních sil | cs |
dc.title.alternative | Atomic force microscopy | en |
dc.type | bakalářská práce | cs |
dc.thesis.degree-name | Bc. | cs |
dc.thesis.degree-level | Bakalářský | cs |
dc.thesis.degree-grantor | Západočeská univerzita v Plzni. Fakulta elektrotechnická | cs |
dc.thesis.degree-program | Elektrotechnika a informatika | cs |
dc.description.result | Obhájeno | cs |
dc.rights.access | openAccess | en |
dc.description.abstract-translated | The theoretical part of the bachelor work engages in atomic microscopy force. Different method of measurement and calculation of errors or their adjustment or deduction. This work also includes the theory of probes and their construction and use. The practical part devotes the analysis of probes for the microscope BRUKER NANOS and their use in appearance of their physical quality and their price. | en |
dc.subject.translated | atomic force | en |
dc.subject.translated | the theory of probes | en |
dc.subject.translated | physical quality | en |
Vyskytuje se v kolekcích: | Bakalářské práce / Bachelor´s work (KET) |
Soubory připojené k záznamu:
Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
---|---|---|---|---|
Andreas_Clauberg_BP.pdf | Plný text práce | 1,04 MB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
vedouci-053697_vedouci.pdf | Posudek vedoucího práce | 266,59 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
oponent-053697_oponent.pdf | Posudek oponenta práce | 395,71 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
obhajoba-053697_hodnoceni.pdf | Průběh obhajoby práce | 198,57 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/18834
Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.