Title: Mikroskopie atomárních sil
Other Titles: Atomic force microscopy
Authors: Clauberg, Andreas
Advisor: Džugan, Tomáš
Referee: Řeboun, Jan
Issue Date: 2015
Publisher: Západočeská univerzita v Plzni
Document type: bakalářská práce
URI: http://hdl.handle.net/11025/18834
Keywords: atomární síla;teorie sond;fyzikální vlastnosti
Keywords in different language: atomic force;the theory of probes;physical quality
Abstract: Teoretická část bakalářské práce se zabývá mikroskopií atomárních sil.Různými metodami měření a výpočtem chyb měření. Dále jejich úpravou či jejich částečným odvozením. Práce rozpracovává také teorii sond, jejich výrobu a použití. V praktické části se práce věnuje rozboru použitelných sond pro mikroskop od firmy BRUKER. Vzhledem k použití a zpracování z hlediska jejich fyzikálních vlastností a rovněž porovnání cen od výrobce.
Abstract in different language: The theoretical part of the bachelor work engages in atomic microscopy force. Different method of measurement and calculation of errors or their adjustment or deduction. This work also includes the theory of probes and their construction and use. The practical part devotes the analysis of probes for the microscope BRUKER NANOS and their use in appearance of their physical quality and their price.
Rights: Plný text práce je přístupný bez omezení.
Appears in Collections:Bakalářské práce / Bachelor´s work (KET)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Andreas_Clauberg_BP.pdfPlný text práce1,04 MBAdobe PDFView/Open
vedouci-053697_vedouci.pdfPosudek vedoucího práce266,59 kBAdobe PDFView/Open
oponent-053697_oponent.pdfPosudek oponenta práce395,71 kBAdobe PDFView/Open
obhajoba-053697_hodnoceni.pdfPrůběh obhajoby práce198,57 kBAdobe PDFView/Open


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11025/18834

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.