Název: Mikroskopie atomárních sil
Další názvy: Atomic force microscopy
Autoři: Clauberg, Andreas
Vedoucí práce/školitel: Džugan, Tomáš
Oponent: Řeboun, Jan
Datum vydání: 2015
Nakladatel: Západočeská univerzita v Plzni
Typ dokumentu: bakalářská práce
URI: http://hdl.handle.net/11025/18834
Klíčová slova: atomární síla;teorie sond;fyzikální vlastnosti
Klíčová slova v dalším jazyce: atomic force;the theory of probes;physical quality
Abstrakt: Teoretická část bakalářské práce se zabývá mikroskopií atomárních sil.Různými metodami měření a výpočtem chyb měření. Dále jejich úpravou či jejich částečným odvozením. Práce rozpracovává také teorii sond, jejich výrobu a použití. V praktické části se práce věnuje rozboru použitelných sond pro mikroskop od firmy BRUKER. Vzhledem k použití a zpracování z hlediska jejich fyzikálních vlastností a rovněž porovnání cen od výrobce.
Abstrakt v dalším jazyce: The theoretical part of the bachelor work engages in atomic microscopy force. Different method of measurement and calculation of errors or their adjustment or deduction. This work also includes the theory of probes and their construction and use. The practical part devotes the analysis of probes for the microscope BRUKER NANOS and their use in appearance of their physical quality and their price.
Práva: Plný text práce je přístupný bez omezení.
Vyskytuje se v kolekcích:Bakalářské práce / Bachelor´s work (KET)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Andreas_Clauberg_BP.pdfPlný text práce1,04 MBAdobe PDFZobrazit/otevřít
vedouci-053697_vedouci.pdfPosudek vedoucího práce266,59 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
oponent-053697_oponent.pdfPosudek oponenta práce395,71 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
obhajoba-053697_hodnoceni.pdfPrůběh obhajoby práce198,57 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/18834

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.